エタロンフィルタ、エタロンフィルタを用いた周波数校正システム、周波数校正方法

開放特許情報番号
L2011001966
開放特許情報登録日
2011/4/8
最新更新日
2015/10/1

基本情報

出願番号 特願2011-000073
出願日 2011/1/4
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2012-141473
公開日 2012/7/26
登録番号 特許第5590562号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 エタロンフィルタを用いた周波数校正システム、周波数校正方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 エタロンフィルタ、周波数校正装置、周波数校正方法
目的 共振器長を簡便に、また正確に測定することができ、テラヘルツ帯での周波数標準として用いることのできるエタロンフィルタを提供し、またテラヘルツ帯での周波数校正装置、周波数校正方法を提供する。
効果 光もテラヘルツ波も透過することが可能となり、エタロンフィルタの構造を破壊することなく、組み立てた後に、テラヘルツ波の周波数を正確に校正することができる。
光周波数からテラヘルツ周波数をトレーサブルに校正することが可能となる。
テラヘルツ帯測定器の周波数検証のための管理用標準器として利用することができる。
反射膜と反射防止膜を成膜した場合は、複合共振器の干渉の影響を受けずに測定が可能である。
技術概要
光及びテラヘルツ帯で透過性を有する2枚の基板にスペーサーを接合することで前記2枚の基板の間に空隙を設けた、エタロンフィルタ。
ダイヤモンド基板等の光及びテラヘルツ帯で透過性を有する2枚の基板にスペーサーを接合することで2枚の基板の間に空隙を設けたエタロンフィルタを構成する。このエタロンフィルタに光源からの光を透過させて光の自由スペクトル間隔を測定し、また、テラヘルツ波をエタロンフィルタに照射することで、テラヘルツ波の自由スペクトル間隔を測定する。光を透過したときの自由スペクトル間隔と、テラヘルツ波を透過したときの自由スペクトル間隔を比較することで、テラヘルツ波の周波数を制御する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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