表面温度の測定方法及び測定システム

開放特許情報番号
L2011001935
開放特許情報登録日
2011/4/8
最新更新日
2015/10/1

基本情報

出願番号 特願2010-276899
出願日 2010/12/13
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2012-127678
公開日 2012/7/5
登録番号 特許第5626679号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 表面温度の測定方法及び測定システム
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 表面温度の測定方法及び測定システム
目的 高価な光学素子を使用することなく、また被測定面の放射率分布に影響されずに正しく被測定面の高速に変化する表面温度を測定することができる測定方法及び測定システムを提供する。
効果 半導体デバイス内やパワーデバイスを利用した回路部品内における発熱部位特定・発熱量測定を目的とした高速に変化する面温度分布測定や、設備診断や建築構造物の欠陥検知を目的とした面温度分布測定において、対象放射率分布に影響されずに正しく面温度分布を測定することが可能になる。
また、熱画像装置の視野特性の限界に迫る微小な放射率パターンを有する電子デバイスなどの測定対象においても視野特性のにじみの影響を受けずに正しく対象温度を測定できる。
技術概要
放射率分布を持つ被測定面と、該被測定面の輝度分布を測定する放射計と、該被測定面に関して該放射計から鏡面反射位置に設置された補助熱源とを用意し、該被測定面の放射率の異なる2か所の輝度を2つの異なる補助熱源温度で測定し、該放射率の異なる2か所のそれぞれ2つの輝度測定値に基づいて該放射率の異なる2か所の反射率比を算出し、該放射率の異なる2か所の輝度測定値と該反射率比を用いて該被測定面の温度を求めることを特徴とする表面温度の測定方法及び測定システム。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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