粉末試料中の鉛の蛍光X線分析法

開放特許情報番号
L2011001932
開放特許情報登録日
2011/4/8
最新更新日
2012/8/23

基本情報

出願番号 特願2010-274946
出願日 2010/12/9
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2012-122899
公開日 2012/6/28
発明の名称 粉末試料中の鉛の蛍光X線分析法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出、その他
適用製品 鉛量を簡易、迅速、かつ比較的正確に分析する蛍光X線分析法及び該分析法に使用する蛍光分析装置
目的 分析対象試料がどのようなものであっても、その鉛含有量を簡易にかつ比較的正確に測定することのできる蛍光X線分析法及び該分析法に使用する蛍光分析装置を提供する。
効果 X線が鉛含有粒子を貫通しているか否かを判定でき、分析対象試料の鉛含有量の概算値を求めることができる。また、分類に対応した標準試料がない場合でも、標準試料を作成するための情報を得ることができる。特に、JIS K0470が対象としていなかった鉱石、顔料、産業廃棄物、焼却灰、ガラス、プラスチックなどの分析の場合や、粉末試料中の鉛含有粒子をX線が貫通できない土砂試料の場合においても鉛含有量の概算値を測定可能にする。
簡単に鉛含有量の概算値を求める場合には非常に有効である。
技術概要
鉛含有量が既知の標準試料により得られる鉛含有量と鉛特性X線強度との関係と、鉛特性X線強度とに基づいて鉛含有量を求める蛍光X線分析法において、X線管球電圧を変えながらX線透視像を観察し、X線透視像に投影された鉛含有粒子の影の有無を調べることにより、所定のX線管球電圧でのX線が貫通していない鉛含有粒子を有しているか否かを判定基準として、貫通していない鉛含有粒子を有しないグループ1と、貫通していない鉛含有粒子を有するグループ2とに分類し、グループ1の蛍光X線分析については、所定のX線管球電圧でのX線が貫通していない鉛含有粒子を有しないものを標準試料として選定し、グループ2の蛍光X線分析については、所定のX線管球電圧でのX線が貫通していない鉛含有粒子を有するものを標準試料として選定する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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