学習効果判定装置及び該装置の使用方法

開放特許情報番号
L2011001827
開放特許情報登録日
2011/3/25
最新更新日
2012/7/27

基本情報

出願番号 特願2008-030635
出願日 2008/2/12
出願人 国立大学法人長岡技術科学大学
公開番号 特開2008-225460
公開日 2008/9/25
登録番号 特許第4994260号
特許権者 国立大学法人長岡技術科学大学
発明の名称 学習効果判定装置
技術分野 生活・文化、電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 学習効果判定装置
目的 学習効果を客観的に判定することができる学習効果判定装置を提供する。
効果 学習作業時における自己アフィンフラクタル次元の平均値の変化分または変化率の変化の傾向から、学習効果を客観的に判定することができる。
技術概要
学習作業時におけるタスクに対する順応によって脳内における学習効果が増大していることを、学習作業時の脳波信号の自己アフィンフラクタル次元の平均値の変化分または変化率を見ることにより推定できる。この装置は、自己アフィンフラクタル次元演算手段と、自己アフィンフラクタル次元変化演算手段と、学習効果判定手段とを備えている。学習効果判定装置7は、自己アフィンフラクタル次元演算手段2と、次元記憶手段3と、自己アフィンフラクタル次元変化演算手段4と、次元変化記憶手段5と、学習効果判定手段6とを備えている。理解を容易にするために次元記憶手段3と次元変化記憶手段5を独立した手段として示してあるが、実際的には、次元記憶手段3は自己アフィンフラクタル次元演算手段2に含まれ、次元変化記憶手段5は自己アフィンフラクタル次元変化演算手段4に含む。自己アフィンフラクタル次元演算手段2は、被測定者の脳の複数の領域のうち学習機能を有する所定の領域から測定した、安静時及び学習作業時における脳波信号から、自己アフィンフラクタル次元を求める。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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