位置計測システム及び位置計測方法

開放特許情報番号
L2011001025
開放特許情報登録日
2011/2/25
最新更新日
2014/9/26

基本情報

出願番号 特願2009-135191
出願日 2009/6/4
出願人 国立大学法人静岡大学
公開番号 特開2010-281684
公開日 2010/12/16
登録番号 特許第5581612号
特許権者 国立大学法人静岡大学
発明の名称 位置計測システム及び位置計測方法
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 対象物のステレオ視、対象物の位置、2次元平面における対象物の位置の計測、3次元空間における対象物の位置の計測
目的 所定の間隔で配置された3台以上のカメラのうち2台のカメラを異なる組合せで選定して、各組合せにおいて対象物までの距離を算出し、その平均値をとる距離計測方法は、量子化誤差を軽減する技術として有効であるが、更なる量子化誤差の軽減が望まれていることに鑑み、対象物のステレオ視によって対象物の位置を計測するに際し、量子化誤差を軽減することができる位置計測システム及び位置計測方法の提供。
効果 n種の重複領域から、それらが重なる領域へと、対象物の真値が存在する領域が狭められるので、対象物のステレオ視によって対象物の位置を計測するに際し、量子化誤差を軽減することが可能となる。なお、より多くの位置関係で重複領域を取得し、それらの重複領域が重なる領域にて対象物の位置を算出すれば、対象物の位置の計測精度をより一層向上させることができる。
技術概要
この技術は、対象物のステレオ視によって対象物の位置を計測する位置計測システムであって、画像を構成する複数の最小要素のそれぞれの中心を通る第1の視線、及び第1の視線のそれぞれを中心として最小要素ごとに設定された第1の視線領域を有し、所定の第1の視線領域にて対象物を捉える第1の撮像光学系と、画像を構成する複数の最小要素のそれぞれの中心を通る第2の視線、及び第2の視線のそれぞれを中心として最小要素ごとに設定された第2の視線領域を有し、所定の第2の視線領域にて対象物を捉える第2の撮像光学系と、第1の撮像光学系と第2の撮像光学系との位置関係をn(n:2以上の整数)種設定し、n種の位置関係のそれぞれにおいて、所定の第1の視線領域と所定の第2の視線領域とが重なる重複領域をn種取得し、n種の重複領域が重なる領域にて対象物の位置を算出する演算部と、を備える。ここで、所定の第1の視線領域及び所定の第2の視線領域は、画像における対象物の重心点又は特徴点を捉えることが好ましい。これにより、第1の撮像光学系及び第2の撮像光学系によって対象物を精度良く捉えることが可能となる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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