回路入力及び回路状態評価方法並びに評価装置

開放特許情報番号
L2011000442
開放特許情報登録日
2011/2/4
最新更新日
2013/3/15

基本情報

出願番号 特願2008-317927
出願日 2008/12/15
出願人 公立大学法人首都大学東京
公開番号 特開2010-140385
公開日 2010/6/24
登録番号 特許第5171595号
特許権者 公立大学法人首都大学東京
発明の名称 回路入力及び回路状態評価方法並びに評価装置
技術分野 電気・電子、情報・通信、その他
機能 検査・検出、制御・ソフトウェア、機械・部品の製造
適用製品 回路入力及び回路状態評価装置
目的 この発明は、回路入力と回路状態との関係を定量的かつ詳細に評価することができる回路入力及び回路状態評価方法並びに評価装置を提供する。
効果 この発明によれば、回路入力と回路状態との関係を定量的かつ詳細に評価することができる。
技術概要
従来、半導体素子を有する電気回路や電子回路のアナログ動作解析を行う際には、SPICE等の回路シミュレータを使用していた。しかし、従来の評価方法及び評価装置であっても、回路入力信号の波形パターンによっては定量的な評価が困難な場合があった。この発明の回路入力及び回路状態評価方法は、半導体素子を有する回路の入力端子に入力信号を印加する入力ステップと、半導体素子からの出力信号に基づき、半導体素子の動作状態を算出する算出ステップと、入力信号の変化量又は印加時間に応じて算出された動作状態を連続的に表示する表示ステップと、詳細評価のために動作状態から少なくとも一部の動作状態を一定のアルゴリズムに従って選択する選択ステップと、選択された動作状態を変化させる新たな入力信号を生成する生成ステップと、を備えるものである。対象半導体素子は電界効果トランジスタであり、動作状態が、電界効果トランジスタの遮断領域、線形領域、飽和領域からなる動作領域の何れか一つであることを特徴としたものである。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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