質量分析における試料の調整方法

開放特許情報番号
L2011000398
開放特許情報登録日
2011/2/4
最新更新日
2011/2/4

基本情報

出願番号 特願2007-297216
出願日 2007/11/15
出願人 公立大学法人首都大学東京
公開番号 特開2009-121997
公開日 2009/6/4
発明の名称 質量分析における試料の調整方法
技術分野 化学・薬品、有機材料
機能 検査・検出
適用製品 質量分析における試料の調整方法、レーザー脱離イオン化質量分析法、マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法、表面支援レーザー脱離イオン化質量分析法
目的 レーザー脱離イオン化−質量分析法(LDI-MS)において、マトリックス支援LDI-MS法等、応用研究に興味が集められたが、試料の調整方法はイオン化基板上に試料を滴下(Drop)するというシンプルな方法が一般的で、殆ど工夫がなされなかった。このDrop法は、イオン化基板上に試料分子が不均一にかつ非常に大きな堆積層数で堆積するという問題がある。特に、表面支援LDI-MS法(SALDI-MS法)では、試料の調整状況が測定結果に大きな影響を与える。そこで、試料分子をイオン化基板上に存在する吸着サイトに安定的に吸着させる方法を提供する。
効果 試料を溶媒に溶解させ、その溶液中にイオン化基板を浸す浸漬(Dip)法により、試料分子は、イオン化基板上に存在する吸着サイトに安定的に吸着する。Drop法では試料溶液を乾燥させるため、非常に高濃度溶液となり、試料分子同士で凝集を起こす。しかし、このDip法は、高濃度溶液になる過程がなく、凝集を起こさない程度の濃度を維持したまま吸着させるため、イオン化基板との相互作用により安定的にその表面に吸着することが出来る。そのため、効率的なエネルギー供給を実現することが可能となる。
技術概要
このレーザー脱離イオン化質量分析法における試料の調整方法は、試料を溶媒に溶解させて溶液を作製し、この溶液中にイオン化基板を浸漬することにより、この試料をイオン化基板に固定することからなる。試料分子がイオン化基板の表面積に対して多い場合には、浸した後の基板表面を、用いた溶媒で十分に洗浄すると、イオン化基板表面に吸着した分子以外の堆積した試料分子を除去できる。図はDrop法とDip法の工程を対比したものである。Drop法においては多量の試料が不均一に多層に金コロイドに付着し、乾燥によりそのまま固化する。これに対し、Dip法においては、基板を試料溶液中に浸漬することにより、金コロイドに多層に付着するが、洗浄することにより、このコロイド表面に付着した第1層の試料以外は、すべてはぎ取られてしまう。これにより、一層の試料のみが金コロイドに固着されることになり、極めて高感度な検出が可能となる。また、試料分子としてAGIIを用いたときのMSスペクトルを、従来のDrop法と比較して、図示する(AGII−(Pro+Phe)は、AGIIから(Pro+Phe)が分解した物質を表している)。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT