放射線計測方法及び放射線計測装置

開放特許情報番号
L2011000311
開放特許情報登録日
2011/1/28
最新更新日
2014/1/27

基本情報

出願番号 特願2009-009397
出願日 2009/1/19
出願人 国立大学法人東北大学
公開番号 特開2010-164542
公開日 2010/7/29
登録番号 特許第5414028号
特許権者 国立大学法人東北大学
発明の名称 放射線計測方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 潜像、消去、微弱な放射線を高感度で測定、消去不全現象
目的 原子炉施設や加速器施設を始めとする放射線施設や核融合炉は、自然放射線レベルの放射線量からきわめて強い放射線量までの10桁を超す広いダイナミックレンジをカバーして測定することが求められているが、一般に個々の測定器のダイナミックレンジはせいぜい4桁程度であるため、複数の手段を組み合わせて測定しなければならないことに鑑み、輝尽性蛍光体を用いたダイナミックレンジが広く、且つ大線量放射線の計測方法の提供。
効果 この放射線計測方法により、輝尽性蛍光体を利用した放射線の測定において大線量の放射線の測定が可能となる。また、広いダイナミックレンジにも対応可能なため、複数の計測手段を併用する必要がないという利点も有する。
技術概要
この技術は、輝尽性蛍光体に長波長の励起光を照射し、発生する輝尽性蛍光から輝尽性蛍光体に入射した放射線量を計測する方法において、短波長の励起光を照射する工程と、短波長の励起光を照射した輝尽性蛍光体に長波長の励起光を照射して、光子数を測定する工程とを含む、放射線計測方法とする。例えば、輝尽性蛍光体に放射線照射後に630nmをピークとして生じるFセンターに捕獲されている電子を消去する工程(630nmあたりの波長を含む白色可視光を照射する工程)を行なわず、短波側に捕獲されている電子を380nmあたりの短波長の励起光によって630nm付近に励起してFセンターに捕獲させた後、He−Neレーザーや半導体レーザーもしくはLEDによる600〜700nm付近の波長の励起光を照射することにより励起して蛍光強度を測定する工程により測定する。レーザーは、2つのレーザーを交互にパルス発振させて読み出してもよい。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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