周波数雑音測定装置及び測定方法

開放特許情報番号
L2011000074
開放特許情報登録日
2011/1/7
最新更新日
2015/10/1

基本情報

出願番号 特願2010-235060
出願日 2010/10/20
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2012-088174
公開日 2012/5/10
登録番号 特許第5586022号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 周波数雑音測定装置及び測定方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 光ファイバ通信システム等に有用なレーザ光源の周波数雑音の高精度な測定に適する周波数雑音測定装置及び測定方法
目的 レーザ光源の周波数雑音を正確に測定することを目的とし、遅延自己へテロダイン法によるレーザ光の周波数雑音測定において、特定の雑音モデルの仮定を必要とせず、かつ他の手法による補助的な測定を必要することなく、周波数雑音のパワースペクトル密度を測定できる装置及び方法を実現する。
効果 周波数雑音のパワースペクトル密度を正確に測定することができる。
被測定レーザ光源の雑音特性を事前に把握しておく必要がなく、あらゆるレーザ光源に適用可能である。また、雑音源の特定を容易に行うことができ、アラン偏差のような他の尺度への変換も可能である。さらに、被測定レーザ光源の振幅雑音の影響を排除し、変換に関わる比例係数の校正を不要とし、光学系の調整と制御を必要としない周波数雑音測定が可能になる。
長尺の光ファイバを用いることなく遅延時間を増大できる。
技術概要
遅延自己ヘテロダイン法による周波数雑音測定装置であって、被測定レーザ光を入力するヘテロダイン干渉計と、該ヘテロダイン干渉計の出力光を受光してヘテロダイン検波を行う光検出器と、該光検出器から出力されるビート信号のスペクトル解析を行うベクトル信号解析装置と、前記ビート信号の周波数変動に対するパワースペクトル密度から被測定レーザ光の周波数雑音のパワースペクトル密度を求める信号処理装置とを備えることを特徴とする周波数雑音測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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