導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定方法及び装置

開放特許情報番号
L2010006328
開放特許情報登録日
2010/12/10
最新更新日
2015/10/1

基本情報

出願番号 特願2010-206737
出願日 2010/9/15
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2012-063207
公開日 2012/3/29
登録番号 特許第5414068号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定方法及び装置
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 高温における導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定方法及び装置
目的 試料温度分布の不均一性や電磁干渉ノイズの問題を解消して任意の温度における比熱容量と半球全放射率の測定値の確度・信頼性を向上させる。
効果 電流制御機能を有さない低コストの装置により、温度分布の不均一性の影響を廃した上で比熱容量と半球全放射率を測定できる。また、測定データ中に電磁干渉ノイズに起因する深刻な誤差の有無や本発明が実施可能な熱収支関係式[数1]が成立していたかどうかをセルフチェックできる。さらに、試料の通電加熱の開始温度から終了温度に渡る広い温度範囲中の任意の温度における比熱容量と半球全放射率を1秒程度の通電加熱実験を複数回行うことで効率的に導出することができる。
技術概要
導電性試料に電流を流して急速通電自己加熱し、該試料を目標温度Tmを超えて任意の温度へ到達させ、目標温度T↓mにおける試料の加熱速度dT/dt、試料を流れる電流I、試料の電圧降下Vの測定データから次の関係式を利用してXとYを算出するステップ、試料に流す電流を変えることで加熱速度を離散的に変えて上記のステップを繰り返すことにより複数組のXとYを算出するステップ、該複数のXとYの値に対して、XとYが次式に示す線形関係を持つことを利用して、近似的に導出したXとYの1次式の傾きと切片の値から比熱容量c↓p及び半球全放射率ε↓tを算出するステップを含むことを特徴とする導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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