表面欠陥自動検査装置および検査方法

開放特許情報番号
L2010005922
開放特許情報登録日
2010/11/12
最新更新日
2013/5/22

基本情報

出願番号 特願2007-147573
出願日 2007/6/4
出願人 国立大学法人豊橋技術科学大学
公開番号 特開2008-298703
公開日 2008/12/11
登録番号 特許第5228157号
特許権者 国立大学法人豊橋技術科学大学
発明の名称 表面欠陥自動検査装置および検査方法
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 検査・検出
適用製品 金属からなる部材、金属皮膜が施されている部材、メッキ、スパッタ、蒸着、溶射
目的 評価対象物が、光学的に鏡面反射ないしはそれに近い鏡面反射で照射光が反射するような場合の部材または部品の、表面欠陥を検査する場合に特に有効な自動検査装置と検査方法の提供。
効果 この技術によれば、例えば金属製の部材や部品、または表面に金属皮膜を形成した、光学的に鏡面反射を示すような部材または部品でも、精度よくその表面欠陥の検出ができる。また、表面欠陥の検査が自動化でき、製品機能の向上や品質管理の工数削減に大いに貢献できる。
技術概要
この技術の、部材の表面欠陥の自動検査装置は、評価対象物とカメラを固定し、点光源の位置を変えながら、または複数位置に配置した点光源を順次点灯することにより、複数枚の表面画像を撮影する手段と、それらの画像をもとに金属表面反射モデルにより鏡面反射の影響を除去し微小なランダム反射を抽出した一枚の画像を生成する手段を備える。また、生成された画像に複素数離散ウェーブレット変換を施し、ノイズ除去および欠陥鮮鋭化を行った画像を生成する手段と、リファレンス画像と生成された画像とのパターンマッチングを行い、対象物の表面欠陥を検出する手段とを備える。また、この技術では、画像のノイズ除去および欠陥鮮鋭化を目的としてウェーブレット変換を行う際に、完全シフト不変な性質を持つ複素数離散ウェーブレット変換を用いている。
イメージ図
実施実績 【有】   
許諾実績 【有】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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