電子回路部品の真贋判定方法

開放特許情報番号
L2010005719
開放特許情報登録日
2010/10/15
最新更新日
2015/10/1

基本情報

出願番号 特願2010-170179
出願日 2010/7/29
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2012-033593
公開日 2012/2/16
登録番号 特許第5354611号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 電子回路部品の真贋判定方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 電子回路部品の真贋判定方法、LSI製品
目的 市場に流通している電子回路部品が、電子回路部品の正規の製造者により製造されたものか否かを判定することができる電子回路部品の真贋判定方法の提供。
効果 電子回路部品の真贋判定方法において、利用される識別データとして、電子回路部品の動作時の波形データを用いるので、これにより、非破壊で正規品と偽造品を識別できる。また、コスト上昇につながる特殊な製造工程を用いないで、電子回路部品の真贋判定方法のための回路を組み込むことができ、手軽に確実に正規品であるか否かが判別できる。
技術概要
この技術では、電子回路部品の真贋判定方法は、電子回路部品の製造時に所定条件で電子回路部品を動作させ、その動作時の消費電力または電磁波の波形を測定し、第1の波形データとして保存しておき、真贋判定する対象の電子回路部品を、所定条件と同じ条件で動作させて、その消費電力または電磁波の波形を測定して、第2の波形データとして一時保存し、保存しておいた第1の波形データと第2の波形データとを比較して、一致すれば本物と判定し、異なれば偽物と判定する。第1の波形データと第2の波形データとの比較は、波形データから所定の特徴抽出を行った後に、抽出した特徴データにより比較を行うように構成してもよい。また、この場合に、所定条件での波形の測定は、単一または複数の所定条件でそれぞれ一回または複数回行い、複数の波形データを第1の波形データとして保存するように構成する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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