位置推定システム、及び、位置推定方法

開放特許情報番号
L2010005633
開放特許情報登録日
2010/10/8
最新更新日
2010/10/8

基本情報

出願番号 特願2007-094173
出願日 2007/3/30
出願人 国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学
公開番号 特開2008-249640
公開日 2008/10/16
発明の名称 位置推定システム、及び、位置推定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 位置推定システム
目的 測定対象の位置を高い精度で推定可能な位置推定システム、及び、位置推定方法を提供する。
効果 位置推定システム/方法では、パーティクルフィルタに用いられる確率分布は、最高確率が所定の範囲で均一に存在するため、確率分布の不適合性が緩和され、測定対象の位置をより高い精度で推定可能となる。また、真の位置と測定位置との誤差が小さい確率分布を求めることにより、より適切な確率分布を用いることができる。これにより、推定精度が更に向上する。
技術概要
図1は位置推定システムSys1を機能的に説明する説明図である。このシステムSys1は、m個の位置測定機器A1〜Amが配置された空間に、測定対象Bが配置されると、測定対象Bの位置を推定するシステムである。測定対象Bには、赤外線・電波・可視光等の電磁波を発する発信機器が取り付けられ、各位置測定機器Aが測定対象Bから電磁波等の信号を感知すると、位置測定機器の識別子とともに信号の強度・到達時間などを、測定対象Bの位置を示す測定データとしてシステムSys1に送信する。発信機器としては、例えばRFIDが挙げられる。システムSys1は、位置測定機器A1〜Amのうち少なくとも一つから測定データを取得すると、受信した測定データに対応する所定の確率分布P(x)を座標系上に設定し、確率分布P(x)を用いて座標系上のパーティクルをサンプリングするパーティクルフィルタを備え、パーティクルフィルタによりサンプリングしたパーティクルから測定対象Bの位置を推定する。図2は位置推定システムの構成を示すブロック図、図3はこのシステムを用いた位置推定方法を説明するフローチャートである。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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