厚さ測定装置および厚さ分布測定方法

開放特許情報番号
L2010004943
開放特許情報登録日
2010/8/27
最新更新日
2010/8/27

基本情報

出願番号 特願2008-210041
出願日 2008/8/18
出願人 国立大学法人金沢大学
公開番号 特開2010-044027
公開日 2010/2/25
発明の名称 厚さ測定装置および厚さ分布測定方法
技術分野 情報・通信、電気・電子、その他
機能 機械・部品の製造、検査・検出、その他
適用製品 厚さ測定装置
目的 測定物の厚さ及び厚さ分布を高速かつ高密度で測定でき、実用的精度に優れた厚さ測定装置及び厚さ分布測定方法の提供すること。
効果 レーザ変位計にて測定物の三次元形状を検出した上で、自由曲面の厚さを測定することができ、測定物をロボットのアームに支持させたので、高速で高密度に厚さ分布を得ることができる。
技術概要
この発明は、プレス加工や鍛造加工後の工作物の自由曲面の厚さを測定する厚さ測定装置及び厚さ分布測定方法に関し、特にロボットを用いることで短時間に実用的精度に優れた測定データが得られ、自動厚さ測定システムの構築に有効である。 厚さ測定装置は、2基のレーザ変位計を光軸が一致するように対向配置した計測工具と、2基のレーザ変位計の間に測定物の位置と姿勢とを制御可能に支持する測定物支持手段とを備える。 測定物支持手段は、測定物を、計測工具の光軸と直交する方向にX−Y移動させることで測定ポイント毎に計測した距離から測定物の三次元形状を測定する形状測定手段と、測定ポイントにおける法線ベクトルを決定し、法線ベクトルと光軸が一致するように測定物の姿勢を変化させた後に厚みを測定する厚み測定手段とを有する。 この測定物支持手段は、測定物の傾き(姿勢)を回動あるいは調整できるものであればロボットであってもよい。 また、測定物の三次元形状を測定する場合には、2基のレーザ変位計の少なくとも一方を用いることが可能である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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