| 出願番号 |
特願2008-300369 |
| 出願日 |
2008/11/26 |
| 出願人 |
独立行政法人日本原子力研究開発機構 |
| 公開番号 |
特開2010-127665 |
| 公開日 |
2010/6/10 |
| 登録番号 |
特許第5158644号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 |
| 発明の名称 |
渦電流探傷システム |
| 技術分野 |
電気・電子 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
渦電流探傷システム |
| 目的 |
欠陥検出性能の向上を図ることができる新しい渦電流探傷システムを実現することにある。具体的には、同一場所に対してＲＦ−ＥＣＴ探傷とＥＣＴ探傷を同時に行って正確な探傷を実現する。 |
| 効果 |
同一場所に対してＲＦ−ＥＣＴ探傷とＥＣＴ探傷を同時に行って正確な探傷を実現するように構成したことにより、欠陥検出性能の向上を図ることができる。 |
技術概要
 |
この渦電流探傷システムは、同一場所に対してＲＦ−ＥＣＴとＥＣＴを同時に行って探傷する渦電流探傷システムであり、ＲＦ−ＥＣＴ用の検査用プローブにおける検出コイルをＥＣＴ用の検査用プローブにおける励磁／検出コイルとして使用（兼用）するように構成する。このＲＦ−ＥＣＴ用の検査用プローブにおける検出コイルは、マルチコイル型に構成することにより、欠陥検出性能（周方向の分解能）の向上を図る。検査用プローブ１０の励磁コイル１０２、１０３をＲＦ−ＥＣＴ（間接磁場を利用した渦電流探傷試験）信号処理系１１の励磁出力端子１１１に接続し、検出コイル１０１を検出入力端子１１２に接続したＲＦ−ＥＣＴ探傷系と、前記検出コイルをＥＣＴ（直接磁場を用いた渦電流探傷試験）信号処理系１２の検出入力端子１２２に接続すると共に抵抗器１３、１４を介して励磁出力端子１２１に接続したＥＣＴ探傷系を構成する。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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