| 出願番号 |
特願2010-116825 |
| 出願日 |
2010/5/21 |
| 出願人 |
独立行政法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 |
特開2011-242345 |
| 公開日 |
2011/12/1 |
| 登録番号 |
特許第5637358号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 発明の名称 |
スペクトル測定装置及び測定方法 |
| 技術分野 |
情報・通信、電気・電子、その他 |
| 機能 |
検査・検出、機械・部品の製造、その他 |
| 適用製品 |
光ファイバ通信システム |
| 目的 |
この発明は、光ファイバ通信システム等に有用なレーザ光源のスペクトル線幅の高精度な測定に適するスペクトル測定装置及び測定方法を提供する。 |
| 効果 |
この発明のスペクトル測定装置及び方法では、光学的なフィルタリングにより不要なスペクトル成分を除去して、ビート信号を検出するため、高いＳＮ比のもとでスペクトラム解析を行うことができる。このため、スペクトル線幅の測定精度が向上するとともに、スペクトラム形状の詳細な評価が可能になる。さらに、高いＳＮ比を実現することにより、周回数のより多い光から生成されるビート信号を観測できるため、分解能の一層の向上が期待できる。 |
技術概要
 |
光ファイバ通信システムの大容量化が進展し、光強度のオン・オフ変調と、光の直接検波を利用する波長多重伝送システムでは、光ファイバ１本当たりの伝送容量がおよそ１０Ｔｂｉｔ／ｓに達し、入力パワーの限界に近づいている。この限界を克服するため、デジタルコヒーレント光通信の研究開発が活発化している。しかし、従来の光ファイバ通信システムでは、光検出器の出力飽和を引き起こす問題があった。この発明は、遅延自己ヘテロダイン法によるスペクトル測定装置であって、被測定レーザ光源を入力する周回光学系２と、光学フィルタ８と、光学フィルタからの光を受光してヘテロダイン検波を行いビート信号を出力する光検出器９ａとを備え、ビート信号からスペクトル線幅を測定する。周回光学系２は、光方向性結合器３ａと、周波数シフトがｆ↓ｓの光周波数シフタ４と、遅延光ファイバ５を備えており、光学フィルタ８により、周回光学系２から出力される被測定レーザ光源のスペクトル成分と、周回光学系によりＮｆ↓ｓの周波数シフトを受けたスペクトル成分を選択的に出力する。 |
| イメージ図 |
|
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)
)
)