検査装置、ならびに、検査方法

開放特許情報番号
L2010003347
開放特許情報登録日
2010/5/28
最新更新日
2010/5/28

基本情報

出願番号 特願2008-266208
出願日 2008/10/15
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2010-096571
公開日 2010/4/30
発明の名称 検査装置、ならびに、検査方法
技術分野 情報・通信、電気・電子、その他
機能 検査・検出、機械・部品の製造、その他
適用製品 電子機器のイミュニティ検査を行う検査装置
目的 この発明は、電子機器のイミュニティ検査を効率良く行うのに好適な検査装置ならびに検査方法を提供する。
効果 この発明の装置によれば、電子機器のイミュニティ検査を効率良く行うのに好適な小型化された検査装置ならびに検査方法を提供することができる。
技術概要
外部から侵入する電磁波に対して電子機器が誤動作や故障等せずに耐える性能は、電磁波イミュニティ性能と呼ばれ国際的な規格が定められており、種々のイミュニティ特性を検査する技術が提案されている。従来、このための方策がとられた機器が製造されているが、これらは通常の障害電波が侵入してくる場合に対応したもので、悪意のある第三者が電子機器を誤動作させたり故障させたりすることを意図したものには対応できるものではなかった。この発明の電子機器はこれに対応するもので、検査周波数帯における電子機器イミュニティ特性を検査する検査装置において、第1の信号発生器と第2の信号発生器とは、所定の信号周波数帯に含まれる周波数の信号を発生させ、調整部は、第1の信号発生器が発生させる信号の周波数と、第2の信号発生器が発生させる信号の周波数との差が、所望の検査周波数帯を走査するように調整し、印加部は、第1の信号発生器により発生された信号と、第2の信号発生器により発生された信号とを測定対象の電子機器に印加するように構成されている。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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