| 出願番号 |
特願2008-148762 |
| 出願日 |
2008/6/6 |
| 出願人 |
国立大学法人東北大学 |
| 公開番号 |
特開2009-294486 |
| 公開日 |
2009/12/17 |
| 登録番号 |
特許第5116100号 |
| 特許権者 |
国立大学法人東北大学 |
| 発明の名称 |
顕微鏡 |
| 技術分野 |
その他 |
| 機能 |
機械・部品の製造、検査・検出 |
| 適用製品 |
顕微鏡 |
| 目的 |
測定試料内の原子や分子などの光軸方向に関する情報を、遠視野において高い空間分解能で得ることができる顕微鏡を提供する。 |
| 効果 |
観測する試料内の原子や分子などに関する光軸に平行な方向の情報を、遠視野で、かつ高分解能で画像計測できる。また、円偏光ビームを用いた従来法と併用すると、原子や分子などの３次元的な方向の情報を得ることができるため、原子や分子の配向に関する情報を遠視野でかつ高分解能で得ることのできる顕微鏡が得られる。 |
技術概要
 |
原子や分子などの遠視野で、かつ高分解能な顕微鏡において、レーザー共振器から直接発生させた、または偏光変換光学素子を用いて発生させたひとつまたは複数のベクトルビームの光軸方向電場によって、測定試料内の原子や分子などに光軸方向の分極を誘起し、その自然放出によって生じる発光強度分布を測定することによって、原子や分子などの光軸方向に関する情報を得る顕微鏡である。図１は、ベクトルビームとして代表的な径偏光レーザービームの、ビーム断面での偏光分布を示す。直線偏光が放射状に分布している。（ａ）は最低次、（ｂ）は２次の横モードのＬａｇｕｅｒｒｅ−Ｇａｕｓｓ型ビームである。図２は、ベクトルビームを集光した時の、焦点付近での光軸方向電場の強度分布の計算結果である。（ａ）は最低次、（ｂ）は２次の横モードのＬａｇｕｅｒｒｅ−Ｇａｕｓｓ型径偏光ビームである。図３は、トポロジカルチャージが１である２次の横モードＬａｇｕｅｒｒｅ−Ｇａｕｓｓ型径偏光ビームを集光した場合の、焦点付近での、光軸方向電場の強度分布の計算結果である。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【試作】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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