| 出願番号 |
特願2007-544069 |
| 出願日 |
2006/8/14 |
| 出願人 |
国立研究開発法人科学技術振興機構 |
| 公開番号 |
WO2007/055057 |
| 公開日 |
2007/5/18 |
| 登録番号 |
特許第4919967号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人科学技術振興機構 |
| 発明の名称 |
音波誘起電磁波による物体の特性測定方法及び装置 |
| 技術分野 |
電気・電子 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
音波誘起電磁波による物体の特性測定装置 |
| 目的 |
物体に音波を照射して誘起される電磁波から物体中の荷電粒子の特性値の変化を測定する方法、即ち、音波誘起電磁波による物体の特性測定方法とその装置を提供し、特に、この方法を適用した、ニューロン活動の最も直接的な量であるニューロンの電荷分布を検出し、高い位置分解能で脳の活動部位を特定できる、脳の活動部位の測定方法を提供する。 |
| 効果 |
生体、コロイド溶液、液晶、固体電解質、イオン結晶、半導体、誘電体、金属、磁性体、磁性流体の何れかまたはこれらの複合材料、又は、材料からなる構造物または機能デバイスにおけるこれらの特性値の変化が関連した現象の解明に有用である。特に、脳の活動部位の特定に用いれば、極めて高い位置分解能で脳の活動部位を特定することができる。 |
技術概要
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この方法及び装置によれば、被測定物体に音波を照射し、被測定物体から発生する電磁波を測定し、電磁波の強度、位相及び周波数特性の何れか又はこれらの組み合わせから、被測定物体の電気特性、磁気特性又は電磁気・機械特性の何れかを測定する。被測定物体の電気特性は、電場、誘電率、電場又は誘電率の空間勾配、被測定物体の有する荷電粒子における濃度、質量、寸法、形状、荷電数、荷電粒子を囲む媒体との相互作用の何れか又はこれらの複数の特性値の変化などを測定することができる。被測定物体２３に音波を照射して誘起される電磁波から物体中の荷電粒子の特性値等の変化を測定する方法及び装置であって、音波集束ビーム１が照射される被測定物体の部分２では、正の荷電粒子３が多い電荷分布状態であるので、正の荷電粒子３及び負の荷電粒子４が誘起する電磁波は完全に打ち消し合わず正味の電磁波６が誘起される。正の荷電粒子３及び／又は負の荷電粒子４の濃度が変化すると、電磁波６の強度が変化するので、電磁波６の強度変化から荷電粒子の濃度変化を知ることができる。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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