複合自己校正機能付き角度検出器

開放特許情報番号
L2010002024
開放特許情報登録日
2010/3/12
最新更新日
2015/9/30

基本情報

出願番号 特願2009-255714
出願日 2009/11/9
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2011-099804
公開日 2011/5/19
登録番号 特許第4984269号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 複合自己校正機能付き角度検出器
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 ロータリエンコーダ
目的 自己校正機能を備えることにより角度検出器が出力する角度情報に含まれる使用環境下での取り付け軸偏心、角度検出器の経年変化の影響等により発生する角度誤差も含めた目盛りの校正値を求めることができるようにした自己校正機能付き角度検出器であって、センサヘッドの個数を最少限にとどめながら、高次成分まで周波数成分の抜けがない、精度の高い校正値を得ることのできる角度検出器の提供。
効果 この技術によれば、高価なセンサヘッドの使用個数を低減しつつ、高次成分まで回転角度検出を行うことができるので、大幅なコストアップを招くことなく、特に精密な回転角度測定を行う必要がある産業分野において、広くかつ有効に利用することができる。
技術概要
この技術の自己校正機能付き角度検出器は、回転軸に固定した目盛り盤の周囲に目盛り読み取り用のセンサヘッドを備えた角度検出器であって、同一目盛り盤の周囲に等間隔に配置される第1センサヘッドと、第1センサヘッドの1つの位置に、第1センサヘッドに換えて配置した第2センサヘッドとからなり、第2センサヘッドと各第1センサヘッドとの計測差を求めて平均値を得ることにより自己校正が行われている。そして、この自己校正機能付き角度検出器において、第1センサヘッド及び第2センサヘッドは、等間隔にL個配置した第1の組と、等間隔にM個配置した第2の組からなり、第2の組により求めた校正値を、目盛り盤に設けられた全目盛りの数をPとしたとき、j*P/L(j=1〜L−1)目盛りずつ位相をずらせる位相シフト手段と、第2の組により求めた校正値と、位相シフト手段により求めた(L−1)個のシフトされた校正値との平均値を求め、この平均値を第1の組により求めた校正値とを加算して校正値として出力する演算手段を備えている。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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