シート状試料特性測定システム、方法及びプログラム

開放特許情報番号
L2010001769
開放特許情報登録日
2010/3/5
最新更新日
2010/3/5

基本情報

出願番号 特願2008-179806
出願日 2008/7/10
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2010-019659
公開日 2010/1/28
発明の名称 シート状試料特性測定システム、方法及びプログラム
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 シート状、電磁シールド材の面抵抗値や導電率などの測定
目的 電磁シールド材などの試料の評価や設計に利用できる、測定装置に依存しない測定対象特性の測定値(推定値)を精度良く得ることができるシート状試料特性測定システム、方法及びプログラムの提供。
効果 電磁シールド材などの試料の評価や設計に利用できる、測定装置に依存がない測定対象特性の測定値(推定値)を精度良く得ることができるようになる。
技術概要
この技術は、楕円形の長軸に直交する短軸を通る平面で2焦点型扁平空洞を切った断面部分にシート状試料を装着し、シート状試料が2焦点型扁平空洞体に装着されている場合と、装着されていない場合との双方で、透過係数を得、シート状試料が装着されている場合の透過係数及びシート状試料が装着されていない場合の透過係数から、シート状試料についてのシールド効果の測定値を得る。シート状試料の測定対象特性の候補値を適用して算出されたシールド効果の算出値と、シールド効果の測定値とが近似したときに、そのときの候補値を、測定対象特性の推定値とする。測定対象特性の候補値により変化する透過係数を適用して透過波を計算し、シート状試料を装着されていない場合と、試料を装着されている場合とで、第2の焦点に収束する波の総和の比から、シールド効果の算出値を得る。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT