光散乱装置、光散乱測定法、光散乱解析装置および光散乱測定解析法

開放特許情報番号
L2010001604
開放特許情報登録日
2010/3/5
最新更新日
2010/7/2

基本情報

出願番号 特願2004-256056
出願日 2004/9/2
出願人 国立大学法人北海道大学
公開番号 特開2006-071497
公開日 2006/3/16
登録番号 特許第4517145号
特許権者 国立大学法人北海道大学
発明の名称 光散乱装置、光散乱測定法、光散乱解析装置および光散乱測定解析法
技術分野 化学・薬品、有機材料、食品・バイオ
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 固体、高分子溶液、微生物含有溶液等の評価に有用な光散乱装置に適用する。
目的 散乱光の生成、制御及び検出する手段から構成される光散乱装置を提供する。
効果 試料が不透明な場合にも測定できる光散乱装置が可能になる。
技術概要
例えば、(A)複数の波長のレーザー光それぞれを時分割で出射するレーザー光源210と、(B)試料110の位置を制御して、試料110に入射したレーザー光が散乱光として出射するまでの光路長を、零に近似するように制御する制御部190と、(C)入射したレーザー光に対して垂直に散乱する散乱光を通過させ、光路を調整する倒立型光学顕微鏡310と、(D)出射する散乱光を検出して光子パルスを出力する検出器330と、(E)検出器330が出力する光子パルスの時間間隔を測定するパルス間隔測定器350と、(F)制御部190により光路長を所定の値から零へ多段階に変化させることによる複数の光路長それぞれに対応する光子パルスから、複数の光路長それぞれに対応する光子相関関数を計算し、計算した光子相関関数から得られるn次の相関関数(n≧1)を外挿することによって、光路長が零のn次の相関関数を計算するコンピュータ360と、を備える光散乱装置にする(図)。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT