板厚測定方法および板厚測定装置

開放特許情報番号
L2010001051
開放特許情報登録日
2010/2/12
最新更新日
2013/12/20

基本情報

出願番号 特願2009-017088
出願日 2009/1/28
出願人 国立大学法人 名古屋工業大学
公開番号 特開2010-175340
公開日 2010/8/12
登録番号 特許第5391375号
特許権者 国立大学法人 名古屋工業大学
発明の名称 板厚測定方法および板厚測定装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 平板、配管、超音波エコー波形
目的 高速で厚み測定が可能であり、厚み分布の画像が得られ、さらに離れた位置からの厚み測定を可能とする板厚測定法および板厚測定装置の提供。
効果 本技術によれば、高速で厚み測定が可能であり、厚み分布の画像が得られ、さらに離れた位置からの厚み測定を可能とする板厚測定法および板厚測定装置を提供することができる。
技術概要
この技術では、平板にレーザー光を照射して平板に超音波を発生させるステップと、平板に沿って伝搬するラム波のうちA0モードを受信するステップと、この受信したA0モードの振幅を測定するステップとを有する板厚測定方法を特徴とする。即ち、レーザー発振装置から発振されたレーザー光が、アッテネーター、ピンホール、ガルバノスキャナーを介して平板に入射される。その入射したレーザー光の作用により平板に超音波が発生され、それが平板に沿って伝搬するラム波となる。斜角探触子によってラム波A0モードが受信され、アンプ、AD変換ボードを介しパソコン内に収録され、パソコン内のソフトウェアを使ってラム波A0モードの振幅が測定される。ラム波A0モードの振幅は板厚におおむね反比例している。レーザー照射地点を移動させることにより、板厚に対応する振幅分布が得られる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

アピール内容 平板や配管に対してレーザー光を照射し、励振されたガイド波を適切に受信することで、レーザー照射点の肉厚を測定する方法である。遠隔より平板や配管の多点での肉厚測定が容易に行うことができる。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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