| 出願番号 |
特願2008-032466 |
| 出願日 |
2008/2/13 |
| 出願人 |
独立行政法人放射線医学総合研究所 |
| 公開番号 |
特開2009-193273 |
| 公開日 |
2009/8/27 |
| 登録番号 |
特許第5344670号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 |
| 発明の名称 |
遺伝子発現解析方法、遺伝子発現解析装置、および遺伝子発現解析プログラム |
| 技術分野 |
その他 |
| 機能 |
機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出 |
| 適用製品 |
遺伝子発現解析装置、および遺伝子発現解析プログラム |
| 目的 |
作成された測定プロファイルデータと参照プロファイルデータとの対比や、作成された測定プロファイルデータ同士の対比を容易に行うことができ、かつ遺伝子の発現状態の解析を容易に行うことができる遺伝子発現解析方法、遺伝子発現解析装置、および遺伝子発現解析プログラムを提供する。 |
| 効果 |
参照プロファイルデータと測定プロファイルデータを波形として表して対比させるため、これらの対比を容易に行うことができ、かつ遺伝子の発現状態の解析を容易に行うことができる。この遺伝子発現解析プログラムによれば、参照プロファイルデータと測定プロファイルデータを波形として表して対比させ、さらにこれらのピークを対応付けて遺伝子の発現状態の解析を行わせるようにコンピュータを実行させることができる。 |
技術概要
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図１は遺伝子発現解析方法の工程の手順を説明するフローチャートである。図２は遺伝子発現解析装置の構成を示すブロック図である。遺伝子発現解析装置Ａは、発現している複数の遺伝子転写産物に由来する複数のピークを有する一つの波形として表したプロファイルデータを用いて遺伝子の発現状態を解析する遺伝子発現解析装置であって、参照プロファイルデータ取得手段１と、測定プロファイルデータ作成手段２と、ピーク対応付け手段３と、遺伝子発現解析手段４とを有する。参照プロファイルデータ取得手段１は、通信ネットワークＮＷを介して参照プロファイルデータベースＤＢ１から、遺伝子発現解析手段４は、対応付けされた測定プロファイルデータのピークの由来する遺伝子転写産物の情報を転写産物種情報から読み取り、対応付けされた測定プロファイルデータのピークの由来する遺伝子を特定することで遺伝子の発現状態を解析する。測定プロファイルデータ作成手段２で作成された測定プロファイルデータの参照対象となる参照プロファイルデータを予め取得する。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
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| 特許権実施許諾 |
【可】
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