3次元物体位置姿勢計測方法

開放特許情報番号
L2009006471
開放特許情報登録日
2009/11/13
最新更新日
2015/9/29

基本情報

出願番号 特願2009-168767
出願日 2009/7/17
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2011-022066
公開日 2011/2/3
登録番号 特許第5030183号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 3次元物体位置姿勢計測方法
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出、制御・ソフトウェア
適用製品 3次元物体位置姿勢計測装置
目的 入力画像と物体モデルとを照合することにより物体の3次元位置姿勢を計測する方法において高精度に3次元位置姿勢を計測できる方法を提供する。
効果 特徴量モデルとの照合を行う場合に詳細モデルでの微調整の照合により、高精度に物体モデルの3次元位置姿勢を計測することが可能となる。
技術概要
図2は、図1のシステムにおいて、この3次元物体位置姿勢計測方法の処理の流れを示すフローチャートであり、入力画像を物体モデルと照合して物体の位置姿勢を決定する処理の流れを示している。ある観測方向から撮像した物体のステレオ画像を入力し(S1)、ステレオ画像から物体のエッジを抽出し(S2)、抽出したエッジをセグメントに分割し(S3)、このセグメントに対して局所的幾何特徴のデータ頂点・データ円弧の特徴データを付加する(S4)。次に、データ頂点・データ円弧の特徴データと、予め作成して格納してある物体を離散的に設定した様々な観測方向から観測して生成した特徴量モデルの局所的幾何特徴であるモデル頂点・モデル円弧のデータとを照合し(S5)、該物体が存在するセグメント候補を検出する(S6)。セグメント候補を物体の詳細な表面形状を持つ三角パッチからなる詳細モデルと照合することにより微調整を行い(S7)、物体モデルの3次元位置姿勢を計測する(S8)。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT