導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定方法及び装置

開放特許情報番号
L2009004430
開放特許情報登録日
2009/7/17
最新更新日
2015/9/28

基本情報

出願番号 特願2009-052886
出願日 2009/3/6
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2010-204063
公開日 2010/9/16
登録番号 特許第4528954号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定方法及び装置
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 高温における導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定装置
目的 電磁干渉ノイズや試料温度分布の不均一性の問題を解決して高温における導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定結果の確度を向上させることを目的とする。
効果 温度のフィードバック制御機能を有さない低コストの装置により、電磁干渉ノイズと温度分布の不均一性の影響を廃した上で比熱容量と半球全放射率を測定できると共に測定点を増やすことで容易に測定結果の確度を向上させることができる。
技術概要
導電性試料に通電して急速加熱し、試料を目標温度T↓mに到達させるステップ、目標温度に到達直後に電流を変化させ、その直後の温度変化率dT/dt、試料を流れる電流I、試料の電圧降下Vの測定データから異なる電流に対応する複数のXとYの値をXとYの関係式により算出するステップ、そして、比熱容量c↓p及び半球全放射率ε↓tを算出するステップを含む。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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