電磁波放射体・電磁波吸収体

開放特許情報番号
L2009004399
開放特許情報登録日
2009/7/17
最新更新日
2010/10/1

基本情報

出願番号 特願2009-033853
出願日 2009/2/17
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2010-192581
公開日 2010/9/2
発明の名称 電磁波放射体・電磁波吸収体
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、材料・素材の製造
適用製品 電磁波放射体
目的 この発明は、特に基板の表面と交差する向き(好ましくは法線方向)に配向した複数のカーボンナノチューブの集合体で構成された電磁波放射体・電磁波吸収体に関し、大きなピークや傾斜をもたない平坦なスペクトルを示す、換言すれば、より一層広い波長範囲に渡って一様に高い放射率特性あるいは吸収率特性を得ることができる電磁波放射体・電磁波吸収体の提供を目的とする。
効果 こうした利用可能な波長範囲の拡大と一様性の確保により、例えば電磁波放射体として電子電気機器の放熱性の改善、広い波長範囲にわたって利用可能な赤外光源など、電磁波放射体を利用した製品の高機能化、高精度化、汎用性の拡大などを図ることができる。 また電磁波吸収体としてより精度の高い赤外センサ、広い波長範囲にわたる高度な電磁遮蔽や光学機器の反射防止など、電磁波吸収体を利用した製品の高機能化、高精度化、汎用性の拡大などを図ることができる。
技術概要
規則的な方向に配向した複数のカーボンナノチューブから成るカーボンナノチューブ配向集合体を備える電磁波放射体であって、カーボンナノチューブ配向集合体が、かさ密度が0.002〜0.2g/cm↑3であり、かつ厚みが10μm以上であると共に、その配向度が、下記の特定の条件の少なくとも何れか1つで定義されるものとする。 1.CNTの長手方向に平行な第1方向と、第1方向に直交する第2方向とからX線を入射してX線回折強度を測定(θ−2θ法)した場合に、第2方向からの反射強度が、第1方向からの反射強度より大きくなるθ角と反射方位とが存在し、且つ第1方向からの反射強度が、第2方向からの反射強度より大きくなるθ角と反射方位とが存在すること。 2.CNTの長手方向に直交する方向からX線を入射して得られた2次元回折パターン像でX線回折強度を測定(ラウエ法)した場合に、異方性の存在を示す回折ピークパターンが出現すること。 3.ヘルマンの配向係数が、0より大きく1より小さいこと。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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