電界、電圧または磁界用測定プローブ

開放特許情報番号
L2009004285
開放特許情報登録日
2009/7/3
最新更新日
2015/9/21

基本情報

出願番号 特願2007-278522
出願日 2007/10/26
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2009-109202
公開日 2009/5/21
登録番号 特許第5219023号
特許権者 国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称 電界、電圧または磁界用測定プローブ
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 電界、電圧または磁界用測定プローブ
目的 通常のオシロスコープ用プローブと同様の使い勝手を有し、ネットワークアナライザ、あるいはスペクトラムアナライザを用いて、微小領域での高周波電界や高周波回路の表面電位あるいは高周波磁界を検出する機能を有する電界、電圧または磁界用測定プローブを提供する。
効果 中間周波数出力をネットワークアナライザ、スペクトラムアナライザなどの測定周波数に変換して出力する機能を具備し、ネットワークアナライザ、スペクトラムアナライザ上で正しい周波数軸上に測定結果を表示できる電気光学(EO)/磁気光学(MO)プローブを提供できる。
技術概要
図1は、電界、電圧または磁界用測定プローブ1の構成と信号の流れを示す図である。入力端2から入力したRF信号は、分岐部3で分岐する。E0/MO検出系4のレーザ光発生/強度変調部11は、例えば注入電流にRF信号を重畳したレーザダイオードを用いて実現出来る。また、E0/MO検出系4では、強度変調されたレーザ光を電磁界検出に最適な状態に整合してEO/MO効果素子に入射する。EO/MO部では、外部電界/磁界によって、入射したレーザ光に位相変調を加える。検波光学系では、この位相変調を強度変調に変換して光電変換部5に出力する。EO/MO検出系4の出力光は、光ダイオードや光トランジスタなどで構成する光電変換部5によって、その振幅を電気信号に変換される。濾波部6では、この電気信号から予め決められた周波帯にある信号成分を選択し、検波部7で整流素子やピーク検出回路などを用いて検波する。RF変調部8では、この検波出力で、先に分岐した第2のRF信号を振幅変調し、RF出力端9から出力する。図2はスペクトラムアナライザに適用した場合を示すブロック図である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT