分子計測装置および分子計測方法

開放特許情報番号
L2009004161
開放特許情報登録日
2009/6/19
最新更新日
2011/12/2

基本情報

出願番号 特願2006-529009
出願日 2005/7/8
出願人 国立大学法人北海道大学
公開番号 WO2006/011348
公開日 2006/2/2
登録番号 特許第4852759号
特許権者 国立大学法人北海道大学
発明の名称 分子計測装置および分子計測方法
技術分野 機械・加工、有機材料
機能 機械・部品の製造
適用製品 原子間力顕微鏡装置による分子計測システム
目的 分子の延伸方向を一軸方向に制御して分子を計測する分子計測装置および分子計測方法を提供する。
効果 基板上に存在する分子を伸縮させる計測において、相互に垂直に交わる三軸微動機構を用いて、基板から剥がれた分子の延伸方向を制御することができる。
技術概要
基板100上に存在するランダムな分子(長鎖分子)900の一端をカンチレバー200で物理吸着(物理的吸着)や共有結合等によってつまみ上げる。基板100面(xy面)に垂直な方向(z軸方向)へカンチレバー200に働く力が小さくなるよう、分子900が基板100から剥がれる位置(剥がれ点)とカンチレバー200の探針の位置と(剥がれ点と探針の位置の間の相対位置)を制御する。これにより、基板100上に存在する分子900を伸縮させ、分子の延伸方向を常に一軸方向になるよう制御を行うことができる分子計測装置とさせる。先端の尖った探針の付いたカンチレバー200は、基板100上に存在する分子900の一端を引き上げ、分子計測装置に備えられる制御手段で、分子900が基板100に接している部分と引き上げにより分子900が基板100から離されている部分との境界である剥がれ点と、カンチレバー200の位置とを、基板100のxy平面に対して垂直線上(z軸方向)になるように制御させる。模式図910の極小点が分子の剥がれ点に対応することになる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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