| 出願番号 |
特願2006-203816 |
| 出願日 |
2006/7/26 |
| 出願人 |
国立大学法人北海道大学 |
| 公開番号 |
特開2008-032440 |
| 公開日 |
2008/2/14 |
| 登録番号 |
特許第4792580号 |
| 特許権者 |
国立大学法人北海道大学 |
| 発明の名称 |
発光寿命測定装置およびその測定方法 |
| 技術分野 |
電気・電子、生活・文化 |
| 機能 |
機械・部品の製造、検査・検出 |
| 適用製品 |
発光寿命測定装置 |
| 目的 |
細胞活性度等の変化を反映した発光特性のわずかな変化を高感度かつ定量的にその場測定することができる発光寿命測定装置およびその測定方法を提供する。 |
| 効果 |
細胞活性度等の変化を反映した発光特性のわずかな変化を高感度かつ定量的にその場測定することができる。これにより、単一細胞内における様々な動的情報をその場で得ることができる。 |
技術概要
 |
図１は、発光寿命測定装置の構成図である。発光寿命測定装置１００では、パルスレーザー光源部１１０は、試料に照射するパルス励起光を繰り返し出力する。測定用光学系１２０は、パルスレーザー光源部１１０から入力したパルス励起光を試料に照射し、試料から放出される発光ならびにパルス励起光を照射した時刻に関する時間情報およびパルス励起光を照射した位置に関する位置情報を出力する。励起光検出部１３０は、パルスレーザー光源部１１０から入力したパルス励起光を検出し、トリガー信号を生成する。また、励起光検出部１３０は、生成したトリガー信号を出力する。発光寿命分布画像取得部１４０は、測定用光学系１２０から出力された発光および励起光検出部１３０から出力されたトリガー信号を入力し、時間ゲート法によって試料の特定領域内の各地点における発光寿命を算出する。また、発光寿命分布画像取得部１４０は、測定用光学系１２０から時間情報および位置情報を入力し、算出された発光寿命の値と組み合わせることで、発光寿命分布画像を作成する。図２は発光寿命測定装置を用いて試料の発光寿命を測定する手順を説明するフローチャートである。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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