スピン記録方法および装置

開放特許情報番号
L2009004145
開放特許情報登録日
2009/6/19
最新更新日
2011/11/4

基本情報

出願番号 特願2005-380347
出願日 2005/12/28
出願人 国立大学法人北海道大学
公開番号 特開2007-179710
公開日 2007/7/12
登録番号 特許第4830107号
特許権者 国立大学法人北海道大学
発明の名称 スピン記録方法および装置
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 スピン記録装置
目的 原子・分子スケールの安定したビットを形成して、記録密度を大幅に向上することができるスピン記録方法および装置を提供する。
効果 原子・分子スケールの安定したビットを形成して、記録密度を大幅に向上することができる。
技術概要
図1は、スピン記録方法の動作原理を説明するための模式図であり、(A)は、計測前の状態を示す図、(B)は、計測時の状態を示す図である。図1(A)に示すように、計測前、つまり、探針3と基板との距離が大きい場合、探針3と各孤立スピンとの間に相互作用が働かないため、各ビットのスピン状態は不明である。図1では、不明であるスピン状態を「up」または「down」で表記している。また、探針3は、既知の特定方向(ここでは、例えば、ダウン)のスピンを持っている。図1(B)に示すように、探針3と基板との距離が小さくなると、探針3と最も近いビット1aについて、両者の相互作用を通じて、スピンの状態(方向)が決定される。しかし、探針3と基板とが近づき過ぎると、探針3と各ビット1との間で電子のトンネルが生じるため、各ビット1上のスピン状態を決定できなくなる。したがって、計測に際しては、探針3と基板との距離を電子のトンネルが生じない距離に保ちつつ、探針3と各ビット1との間の「ポテンシャル」を、例えば、探針3の周波数変調などを通じて測定する。計測後は、探針3を基板から離す。このプロセスにより、各ビット1上のスピン状態を計測する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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