| 出願番号 |
特願2005-059503 |
| 出願日 |
2005/3/3 |
| 出願人 |
国立大学法人北海道大学 |
| 公開番号 |
特開2006-242771 |
| 公開日 |
2006/9/14 |
| 登録番号 |
特許第4701385号 |
| 特許権者 |
国立大学法人北海道大学 |
| 発明の名称 |
光学特性測定装置、光学特性測定方法、並びに、それに用いるプログラムおよび記録媒体 |
| 技術分野 |
電気・電子、化学・薬品、食品・バイオ |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
物性物理学、化学、生命科学、医療、薬学等の広範な分野における物質の同定や評価などに利用される光学特性測定装置に適用する。 |
| 目的 |
測定対象物の光学特性値の波長依存性を測定する特定の構成からなる光学特性測定装置を提供する。 |
| 効果 |
揺動や温度変化の大きい環境でも、また、測定対象物の種類によらず測定ができ、測定周波数領域が広く、かつ測定精度が高い光学特性測定装置が可能になる。 |
技術概要
 |
量子相関を持つ光子Ａ、Ｂ対を生成し、光子Ａを測定対象物（光学素子４）に射出する励起用レーザ１及び非線形光学結晶２と、測定対象物を透過した光子Ａを第１成分および第２成分に分割し、光子Ｂを第３成分および第４成分に分割し、光子Ａの第１成分と光子Ｂの第３成分とを混合して第１混合光を生成し、光子Ａの第２成分と光子Ｂの第４成分とを混合して第２混合光を生成するビームスプリッタ５と、光子Ａ、Ｂとの光路差を変化させる光学遅延回路６と、第１混合光および第２混合光の光子を検出する光子検出器７Ａ、７Ｂと、光子検出器７Ａ、７Ｂによって第１混合光の光子と第２混合光の光子とが同時に検出される頻度を同時計数率として計測する同時計数装置８と、同時計数装置８によって計測された同時計数率から、光子Ａ、Ｂとの光路差の変化に対する同時計数率の変化を求め、この同時計数率の変化におけるディップ部分の値に基づき測定対象物の光学特性値の波長依存性を算出する分析装置９と、を備える光学特性測定装置１０にする（図）。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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