光シャッターの性能評価用分析装置

開放特許情報番号
L2009003990
開放特許情報登録日
2009/6/5
最新更新日
2017/3/22

基本情報

出願番号 特願2007-174864
出願日 2007/7/3
出願人 独立行政法人日本原子力研究開発機構
公開番号 特開2009-014889
公開日 2009/1/22
登録番号 特許第5540300号
特許権者 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
発明の名称 光シャッターの性能評価用分析装置
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 検査・検出、機械・部品の製造
適用製品 光学機器、計測機器、分析機器
目的 この発明は、時間分解能に優れ、電気的な雑音に強い、光シャッターの性能評価用分析装置を提供する。
効果 この発明の方法によると、従来の手法と比較して高い時間分解能での評価が出来る。さらに、電気的な雑音に強いため、電気的な雑音の多い周囲環境でも劣化の無い計測が出来る。
技術概要
従来のシャッター性能評価装置は、発生する光を光シャッターを通して光電変換素子において電気信号に変換し、オシロスコープで計測する方法が取られていた。しかし、この方法では、電気的な雑音に弱く、時間分解能が光電変換素子およびオシロスコープの電気的な性能に制限されると言う問題があった。この発明の光シャッター性能評価用分析装置は、光源、光シャッター、分光器、解析装置から構成されている。光源には時間的に周波数が変化し、かつその変化が既知である光源が用いられる。時間的に周波数が変化し、その変化が既知である光源としては、チャープパルスレーザーを用いても良い。この光シャッター性能評価用分析装置では、時間的に周波数が変化する光を使うため、ある時間でどの程度光がブロックされているかは、その時間に対応した周波数での強度分布の比を見ることで評価できる。また、この強度分布の比の増加、減少の速度がシャッター速度となるため、遅いシャッター速度の場合は緩やかな強度の変化、速いシャッター速度の変化として現れるため、電気的な雑音に強く、高い時間分解での評価が可能となっている。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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