半導体スイッチング素子のゲート駆動装置

開放特許情報番号
L2009003415
開放特許情報登録日
2009/5/22
最新更新日
2009/5/22

基本情報

出願番号 特願2001-335956
出願日 2001/11/1
出願人 株式会社日立製作所
公開番号 特開2003-143833
公開日 2003/5/16
登録番号 特許第3931627号
特許権者 株式会社日立製作所
発明の名称 半導体スイッチング素子のゲート駆動装置
技術分野 電気・電子
機能 その他
適用製品 半導体スイツチング素子 ゲ−ト駆動装置
目的 本発明の目的は、なオン時に正規のゲート電圧、またはオフ時に正規のゲート電圧が印加されないときにおいても素子の故障を検知し、電力変換装置の安全性,信頼性を更に向上させる半導体スイッチング素子のゲート駆動装置を提供することである。
効果 本発明によれば、ゲート抵抗に流れるゲート電流を測定する手段、あるいはゲート抵抗に流れるゲート電流を積分する手段を設けIGBTのゲートの絶縁特性等の異常を精度良く検知できる。さらに、同一アームに直列に接続している他のIGBTのゲート回路にも異常を伝送して、アーム短絡を未然に回避し、安全性,信頼性の高いゲート駆動装置を実現できる。
技術概要
 
本発明は、ゲート抵抗に流れるゲート電流を測定する手段、あるいはゲート電流を積分する手段を設け、正常値範囲と比較し、ゲート駆動回路に信号を伝達する手段を設ける。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】
実施権条件 特許通常実施権の許諾(非独占)

登録者情報

登録者名称 株式会社日立製作所

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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