超音波検査方法及び装置

開放特許情報番号
L2009003085
開放特許情報登録日
2009/5/15
最新更新日
2009/5/15

基本情報

出願番号 特願2003-069070
出願日 2003/3/14
出願人 株式会社日立製作所
公開番号 特開2004-279144
公開日 2004/10/7
登録番号 特許第3861833号
特許権者 株式会社日立製作所
発明の名称 超音波検査方法及び装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 超音波検査装置
目的 本発明の目的は、外形と内部円筒状の接合面との形状が相似関係に無い場合のその接合面を外部から超音波検査で検査するに際し、今まで検査が不充分であった内部円筒状接合面の真上以外の範囲を確実に検査可能とすることにある。
効果 本発明によれば、被検査体の外形と内部の接合面との形状に相似関係が無い場合にも各走査位置での検査において接合面からの反射条件を一様にできるので、接合面の検査精度が向上する。
技術概要
 
本発明は、角型棒状部材2の内側に円筒状凸部5が接合面6で接合された被検査体の接合面を検査するに際して、その被検査体内部の接合面6に対して特定の条件で超音波ビーム9を送受信する様に、集束ビーム型超音波探触子1の走査位置に応じて被検査体外表面から入射する超音波ビーム9の角度や集束ビーム型超音波探触子1と前記被検査体外表面との距離を変化して反射条件を各走査位置で揃えて、前記被検査体内部の接合面6からの超音波ビーム9の反射波情報を集束ビーム型超音波探触子1で受信して得るものである。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】
実施権条件 特許通常実施権の許諾(非独占)

登録者情報

登録者名称 株式会社日立製作所

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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