分析用チップ及びその製造方法、分析装置並びに分析方法

開放特許情報番号
L2009001457
開放特許情報登録日
2009/3/14
最新更新日
2011/11/18

基本情報

出願番号 特願2006-258045
出願日 2006/9/22
出願人 有限会社バイオデバイステクノロジー
公開番号 特開2008-076313
公開日 2008/4/3
登録番号 特許第4840588号
特許権者 有限会社バイオデバイステクノロジー
発明の名称 分析用チップ及びその製造方法、分析装置並びに分析方法
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 分子認識機能、バイオセンサ
目的 LSPRによる測定結果である吸収ピークの吸光度変化と干渉分光法による測定結果である吸収ピーク波長のシフトとの両方において大きな変化量を得ることが可能な分析用チップの提供。
効果 本技術によれば、試料中の物質の検出又は定量を、LSPR及び光の干渉効果に起因する吸収ピークの吸光度変化とピーク波長シフトとの両方から知ることができ、しかもこれらの変化量は従来の構造のセンサを用いた場合に比較して顕著に大きなものとなる。すなわち、既存の分析装置やセンサー等に比較して高感度な分析を実現することができる。
技術概要
この技術では、互いに平行な方向に延びる多数の細孔が略等間隔に配列され、細孔が一方の面に開口した多孔質層と、多孔質層の開口面上に形成された金属層とを備え、金属層が多孔質層の開口面上と細孔の開口部近傍の孔壁面とに形成されている。多孔質層は陽極酸化アルミナ皮膜であることが好ましい。金属層は、Cr、Ti、Niから選ばれる少なくとも1種を含む下地層と、Au、Agから選ばれる少なくとも1種を含む表面層とをこの順に積層して構成される。細孔の内部には金属微粒子が存在しない。分析用チップ表面への物質の吸着が、分析用チップに光を照射したとき、局在プラズモン共鳴及び干渉効果による吸光度変化及び波長シフトとして観察される。
リサーチツールの分類 方法・プロセス、その他
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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