測定装置、測定方法、ならびに、プログラム

開放特許情報番号
L2009001248
開放特許情報登録日
2009/3/6
最新更新日
2015/8/20

基本情報

出願番号 特願2007-179276
出願日 2007/7/9
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2009-017426
公開日 2009/1/22
登録番号 特許第4883635号
特許権者 国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称 測定装置、測定方法、ならびに、プログラム
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 測定装置、ならびにプログラム
目的 複数の送信局が同じ送信場所から送信したOFDM(直交周波数分割多重)信号を受信して分解能の高い遅延プロファイルを取得するのに好適な測定装置、測定方法、ならびに、コンピュータを用いてこれらを実現するプログラムを提供する。
効果 複数の送信局が同じ送信場所から送信したOFDM信号を受信して分解能の高い遅延プロファイルを取得するのに好適な測定装置、測定方法、ならびに、コンピュータを用いてこれらを実現するプログラムを提供することができる。
技術概要
図1は測定装置の概要構成を示す模式図である。図2は、測定装置において実行される測定処理の制御の流れを示すフローチャートである。測定装置101の受信部102が、同じ位置から送信された複数のOFDM送信局から信号を受信し、各送信局ごとに、周波数変換部103が周波数変換を行い、シンボル同期部104がシンボル同期のための切り出し位置で離散サンプリングし、フーリエ変換部105が高速フーリエ変換を行い、周波数偏差取得部106は、SPからサブキャリアの伝達関数を求め、伝達関数の時間経過から周波数偏差を求め、周波数補正部107は、周波数偏差が収束するまで周波数補正を行って、個別プロファイル取得部108が、遅延プロファイルを求め、各の位相差が収束するまでシンボルタイミング補正部109が、シンボル切り出し位置を補正し、連結プロファイル取得部110が、位相差の収束値だけ補正した伝達関数を連結して、高精度の遅延プロファイルを得る。図3は、シンボル切り出し位置をスライディングできる範囲を示す説明図である。図4は、SP(Scattered Pilot)が配置される様子を示す説明図である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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