温度測定方法及び当該方法を用いた温度測定装置

開放特許情報番号
L2009000834
開放特許情報登録日
2009/2/20
最新更新日
2009/3/14

基本情報

出願番号 特願2006-219895
出願日 2006/8/11
出願人 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構
公開番号 特開2008-045923
公開日 2008/2/28
発明の名称 温度測定方法及び当該方法を用いた温度測定装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 放射温度計
目的 被測定物質の放射率を必要とせず温度を正確に測定することを可能とし、かつ、1台の装置で低温域から高温域までの広い温度領域での測定が可能となる温度測定方法及びその方法を用いた温度測定装置の提供。
効果 本技術によれば、航空宇宙に限らず、高温になる溶鉱炉や半導体の温度乖離が必要な現場等において有効である。また、製造現場や研究の場において、非接触で正確な温度測定が必要とされる各種分野において適用することができる。
技術概要
この技術では、所定の波長範囲にわたって放射率が温度に依存しないで実質的に1とみなすことができる基準物体(屈折率1、消衰係数0)と、波長範囲の輻射エネルギーを透過させるバンドパスフィルタと、バンドパスフィルタを透過した輻射エネルギーを取り込んで温度を観測する放射温度計とを備え、基準物体を測定対象に接触させて実質的に熱平衡状態となったときに基準物体から放射され、バンドパスフィルタを透過し、放射温度計によって観測された温度から測定対象の温度を求める。尚、バンドパスフィルタを透過した輻射エネルギーに透過させる減光フィルタを設けることもできる。これにより、高温域の温度測定も、低温域と同じ放射温度計を用いて温度を測定することができる。又、基準物体としては、例えば、ZrO↓2、Al↓2O↓3、Si↓3N↓4などを用いることができる。ただし、所定の波長範囲にわたって放射率が温度に依存しないで実質的に1になるものであれば、これらの物質に限定されるものではない。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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