断層撮影装置の画像再構成方法、故障診断方法、断層撮影装置、及び、システムマトリクスの管理プログラム

開放特許情報番号
L2009000214
開放特許情報登録日
2009/1/16
最新更新日
2016/10/18

基本情報

出願番号 特願2007-087480
出願日 2007/3/29
出願人 独立行政法人放射線医学総合研究所
公開番号 特開2008-245695
公開日 2008/10/16
登録番号 特許第5099750号
特許権者 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
発明の名称 断層撮影装置の画像再構成方法、故障診断方法、断層撮影装置、及び、システムマトリクスの管理プログラム
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 X線CT装置、単一光子放射断層撮影(SPECT)装置、陽電子放射断層撮影(PET)装置等の断層撮影装置
目的 近年、断層撮影装置が普及し、医療現場での役割が増している一方、装置の高度化に伴い、検出器数が増加しているため、故障によるリスクが高まると共に、それを避けるためメンテナンス費用が増大する傾向にある。通常、装置に問題が発生した場合、予定している検査をキャンセルし、早急に装置を修理する必要があった。特に、検査後に検出器の故障に気づいた場合は、再検査を余儀なくされる場合もあった。 この技術は、検出器に欠損や不良等のエラーが発生しても、エラーの影響を除去し、画像に生じるアーティファクトを低減させることを目的とする。
効果 検出器に欠損や不良等のエラーが発生しても、エラーの影響を除去して、画像に生じるアーティファクトを低減させることができる。従って、検査をキャンセルする必要が無くなるだけでなく、装置修理の頻度を下げられることから、経済的な効果も大きい。 更に、検査後に検出器の故障に気付いた場合でも、画質劣化を後処理で回避することが可能となり、再検査を避けることができる場合もある。
技術概要
断層撮影装置において、1つ又は複数の検出素子に対する計測データにエラーが含まれる場合、画像再構成演算において計算もしくは参照するシステムマトリクスをエラーに合わせて修正することによって、画像に生じるアーティファクトを低減させる。 その際、エラーを含む検出素子の位置情報およびエラーの程度の情報を記憶装置に格納し、画像再構成ソフトウェアの内部において参照することによって、システムマトリクスをエラーに合わせて修正することができる。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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