低被爆X線検査方法及び装置

開放特許情報番号
L2008005869
開放特許情報登録日
2008/12/5
最新更新日
2008/12/5

基本情報

出願番号 特願2006-097726
出願日 2006/3/31
出願人 国立大学法人静岡大学
公開番号 特開2007-271468
公開日 2007/10/18
発明の名称 低被爆X線検査方法及び装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 低被爆X線検査方法、低被爆X線検査装置
目的 人体への被爆を最小とする低被爆X線検査方法及び装置の提供。
効果 フォトンカウンティング動作による超高感度半導体放射線検出器をイメージャーとした小型化可能な検査装置が提供できる。また、従来に比べ同線量で格段に高いコントラストを得ると共に、正確な撮像データから自由度の高い画像演算処理を可能とし、必要に応じた高機能化を図ることができる。さらに低被爆高コントラスト撮像が可能となる。
技術概要
この技術では、フォトンカウンティング動作による超高感度半導体放射線イメージャーと低出力高エネルギーX線源を用いた低被爆のX線検査装置を提供する。超高感度の半導体放射線検出器としては代表的にはCdTeを用いるものを採用する。この半導体放射線検出器を面状に配置し、2次元画像を得るように構成する。各半導体放射線検出器からのX線検出信号は信号処理回路で処理するが、この際、信号強度により弁別動作を行う回路を設ける。さらには、この弁別動作はフォトン1個が入射する時間内に終了するように高速で処理する。イメージャーは二次元型であれば動画撮像が可能であり、ラインスキャナ型では物体の移動をすることにより静止画撮像が可能で、用途に応じていずれの形式を選択しても構わない。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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