硬さ測定システムの動作中心周波数選択方法、動作中心周波数選択装置及び硬さ測定システム

開放特許情報番号
L2008005638
開放特許情報登録日
2008/11/7
最新更新日
2011/10/21

基本情報

出願番号 特願2006-512248
出願日 2004/12/13
出願人 学校法人日本大学
公開番号 WO2005/100951
公開日 2005/10/27
登録番号 特許第4822438号
特許権者 学校法人日本大学
発明の名称 硬さ測定システムの動作中心周波数選択方法、動作中心周波数選択装置及び硬さ測定システム
技術分野 食品・バイオ
機能 検査・検出、安全・福祉対策
適用製品 生体組織等の対象物の硬さを測定する硬さ測定システムの動作中心周波数選択装置に適用する。
目的 特定機能を有する位相シフト回路を備えてなる硬さ測定システムの動作中心周波数選択装置を提供する。
効果 動作中心周波数を選択することがより容易に行える装置が可能になる。
技術概要
対象物に振動を入射する振動子14と反射される信号を検出する振動検出センサ16とを有する硬さセンサ12と、硬さセンサ12に接続され、振動子14と振動検出センサ16の波形に位相差が生じるときは、周波数を変化させてその位相差をゼロにシフトする位相シフト回路から構成され、硬さセンサ12がテストピース4、6に未接触の自由端状態で周波数に対する振幅特性、位相特性における複数のピークを検出して各ピークを区別するピーク検出部70と、各ピークについてその周波数と位相とを測定し記憶する自由端特性取得部74と、各ピークにつき、硬さセンサ12をテストピース4、6に接触させるときに変化する周波数と位相とを測定し記憶する第1、第2特性取得部76、78と、各ピークにつき、自由端特性と接触特性との間の周波数変化及び位相変化とに基づいて、硬さ測定に用いるためのピークを選択するピーク選択部80と、選択されたピークの自由端状態の周波数を硬さセンサ12の動作周波数とし、この動作周波数から任意の周波数幅を隔てる周波数を位相シフト回路の動作周波数とする動作中心周波数設定部82とを備える硬さ測定システムの動作中心周波数選択装置50にする(図)。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【有】   
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