X線検出器アレイ

開放特許情報番号
L2008005576
開放特許情報登録日
2008/10/31
最新更新日
2008/10/31

基本情報

出願番号 特願2005-336967
出願日 2005/11/22
出願人 国立大学法人静岡大学
公開番号 特開2007-136050
公開日 2007/6/7
発明の名称 X線検出器アレイ
技術分野 電気・電子、生活・文化
機能 機械・部品の製造、材料・素材の製造、検査・検出
適用製品 X線検出器アレイ
目的 感度と直線性の高い半導体検出器を用いるX線CT用半導体放射線検出器の配列構造と信号処理技術を提供する。
効果 感度が高く特性が良好な半導体検出器をX線CT装置に用いる場合に生じるギャップの問題点が解決でき、高い解像度のCT画像を得ることができる。
技術概要
図1に検出器アレイ15の配列例を示す。検出器アレイ15は、2列の平行する検出素子アレイ1、2により構成される。検出素子5、6は2列にわたり前後に配置される。X線ビーム3の入射方向は紙面の上から下に向かってであり、検出素子アレイ1、2全体を照射する。前列の検出素子5と後列の検出素子6は、それぞれのギャップを補完するために、前列のギャップに後列の検出素子が設けられてなる構造とする。測定対象物は紙面に垂直な方向に移動する。図2には、pn構造の向きを整えた構造を示す。このように整列すると、X線により発生した電子及び正孔の走行性の違いによる検出特性の差が小さくなる。図2においては、基盤を2つ用いているが、図1に示すように1つの基盤上に2層構造を作成する構造を採用してもよい。また、図3に示すように基盤の両面に検出素子アレイを配置することにより、製造時の困難度が低下する。さらには基板上に一層のみを形成した検出アレイを背中合わせに貼り付けることにより二層の検出素子アレイ構造としてもよい。
イメージ図
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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