X線CT装置

開放特許情報番号
L2008005571
開放特許情報登録日
2008/10/31
最新更新日
2008/10/31

基本情報

出願番号 特願2005-295851
出願日 2005/10/11
出願人 国立大学法人静岡大学
公開番号 特開2007-105068
公開日 2007/4/26
発明の名称 X線CT装置
技術分野 生活・文化
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 X線CT装置
目的 感度と直線性の高い半導体検出器を用いるX線CT用半導体放射線検出器の配列構造と信号処理技術を提供する。
効果 感度が高く特性が良好な半導体検出器をX線CT装置に用いる場合に生じるギャップの問題点が解決でき、高い解像度のCT画像を得ることができる。
技術概要
X線検出素子として、CdTeを含む光子−電荷直接変換型の半導体検出器を用いることが望ましい。図1に検出器アレイ15の配列例を示す。検出器アレイ15は、2列の平行する検出素子アレイ1、2により構成される。検出素子5、6は2列にわたり千鳥配置される。X線ビーム3の入射方向は紙面に垂直であり、検出素子アレイ1、2全体を照射する。1列目の検出素子5、5’…と2列目の検出素子6、6’…は、それぞれのギャップを補完するために、列ピッチ移動に対し少し重なる構造とする。測定対象物4が列ピッチ分移動したときに1列目のギャップで取得できなかったデータを2列目の検出器の取得データで補完できる配置とする。図2にデータ補完の概念を示す。1回目のスキャンpass1において第1の検出素子アレイ1から得られるデータは、ギャップの存在のために、ギャップ位置において欠落したデータとなる。即ちデータd11が得られた検出素子5に隣接するギャップにおいてはデータが欠落し、その次の検出素子5’位置ではデータd12が得られる。最後のデータd1nを取得した後、測定対象物4を列ピッチ分ステップ送りして2回目のスキャンを行う。
イメージ図
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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