| 出願番号 |
特願2007-051094 |
| 出願日 |
2007/3/1 |
| 出願人 |
独立行政法人情報通信研究機構 |
| 公開番号 |
特開2008-215914 |
| 公開日 |
2008/9/18 |
| 発明の名称 |
テラヘルツ分光による文化財の検査方法 |
| 技術分野 |
生活・文化、化学・薬品、その他 |
| 機能 |
検査・検出、安全・福祉対策、その他 |
| 適用製品 |
非破壊の方法によって文化財の製作に使われた物質を同定する検査方法。 |
| 目的 |
美術史研究や修復活動などに有効で安全な、文化財の製作に使われた顔料等の物質を同定する方法を提供すること。 |
| 効果 |
文化財の製作に使用された顔料等の物質を非破壊で特定することができるので、美術史研究や修復活動等を有効に行える。また、人体に安全な電磁波を利用するため、文化財のみならず分析作業者の安全性も確保され、産業上利用価値が高い。 |
技術概要
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テラヘルツ波を十分透過すると共に吸収或いは反射スペクトルが既知である基礎材料に、文化財に用いられる染料、顔料、展色剤、表面保護剤のうちの少なくとも１物質を塗布し硬化させて試料を作成する。 試料に対して波長の略連続的に異なるテラヘルツ波を照射して、透過或いは反射分光法により吸収或いは反射スペクトルを求める。 基礎材料に塗布する物質を変えて各試料における吸収或いは反射スペクトルを求めることで、文化財に用いられうる様々な染料、顔料、展色剤、表面保護剤によるテラヘルツ波の吸収或いは反射スペクトルデータベースを得る。 得られたデータベースを基に、分析対象の文化財にテラヘルツ波を照射し、その吸収特性を解析することで文化財に含まれている物質を同定する。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
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