絶対反射率の測定方法及び測定装置

開放特許情報番号
L2008005481
開放特許情報登録日
2008/10/24
最新更新日
2012/1/20

基本情報

出願番号 特願2006-228457
出願日 2006/8/24
出願人 国立大学法人東京農工大学
公開番号 特開2008-051662
公開日 2008/3/6
登録番号 特許第4882067号
特許権者 国立大学法人東京農工大学
発明の名称 絶対反射率の測定方法及び測定装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出、材料・素材の製造
適用製品 物質の電磁波に対する絶対反射率の測定装置
目的 精度良く物質の絶対反射率を測定する方法及び装置を提供することである。
効果 被測定物質の絶対反射率を精度良く求めることができる。
技術概要
 
屈折率および消光係数が既知の参照物質と絶対反射率を測定すべき被測定物質の反射率をそれぞれ測定し、それら測定された反射率の比を計算し、前記屈折率と消光係数とから計算により求めた上記参照物質の反射率と上記反射率の比とを乗じて上記被測定物質の絶対反射率を測定するようにした。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 一般的に使用されるアルミニウム製ミラーなどでは、被測定物質の絶対反射率を正確に求めることができない問題を解決した。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
Copyright © 2017 INPIT