磁気共鳴測定装置

開放特許情報番号
L2008005454
開放特許情報登録日
2008/10/24
最新更新日
2013/1/21

基本情報

出願番号 特願2007-039951
出願日 2007/2/20
出願人 国立大学法人金沢大学
公開番号 特開2008-203104
公開日 2008/9/4
登録番号 特許第5135578号
特許権者 国立大学法人金沢大学
発明の名称 磁気共鳴測定装置、集積回路および磁気共鳴測定方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 磁気共鳴測定装置
目的 小型化および軽量化を図った磁気共鳴測定装置を提供する。
効果 磁気共鳴測定装置は、小型化および軽量化を図ることができる。
技術概要
図1は、磁気共鳴測定装置の構成図である。磁気共鳴測定装置100では、磁石102は、測定対象であるサンプル11に、例えば数十mTの磁束密度の直流磁場を印加する。インダクタ101は、サンプル11と一定関係の位置、即ちサンプル11から磁気的影響を受けるような位置に配置されている。オペアンプ113は、交流電圧源103から供給される交流電圧に応じた電流をインダクタ101に流すバッファアンプ(インピーダンス変換器)である。特性値検出部106は、インダクタ101に流れる交流電流の角周波数ωが変化するごとに、その角周波数ωにおける自己インダクタンスLの実部または虚部の変化傾向を観測する。そして、特性値検出部106は、特徴的な変化傾向を示すときの角周波数ωを、特性値である共鳴角周波数ω0として検出する。物性評価部107は、特性値に基づいて、サンプル11の磁気共鳴に関する、つまりサンプル11のフリーラジカルに関する物性値を特定する。図2は測定方法を説明するための説明図である。図3はインダクタが形成された半導体集積回路の外観図である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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