磁気共鳴測定装置
- 開放特許情報番号
- L2008005454
- 開放特許情報登録日
- 2008/10/24
- 最新更新日
- 2013/1/21
基本情報
出願番号 | 特願2007-039951 |
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出願日 | 2007/2/20 |
出願人 | 国立大学法人金沢大学 |
公開番号 | |
公開日 | 2008/9/4 |
登録番号 | |
特許権者 | 国立大学法人金沢大学 |
発明の名称 | 磁気共鳴測定装置、集積回路および磁気共鳴測定方法 |
技術分野 | 電気・電子 |
機能 | 機械・部品の製造、検査・検出 |
適用製品 | 磁気共鳴測定装置 |
目的 | 小型化および軽量化を図った磁気共鳴測定装置を提供する。 |
効果 | 磁気共鳴測定装置は、小型化および軽量化を図ることができる。 |
技術概要![]() |
図1は、磁気共鳴測定装置の構成図である。磁気共鳴測定装置100では、磁石102は、測定対象であるサンプル11に、例えば数十mTの磁束密度の直流磁場を印加する。インダクタ101は、サンプル11と一定関係の位置、即ちサンプル11から磁気的影響を受けるような位置に配置されている。オペアンプ113は、交流電圧源103から供給される交流電圧に応じた電流をインダクタ101に流すバッファアンプ(インピーダンス変換器)である。特性値検出部106は、インダクタ101に流れる交流電流の角周波数ωが変化するごとに、その角周波数ωにおける自己インダクタンスLの実部または虚部の変化傾向を観測する。そして、特性値検出部106は、特徴的な変化傾向を示すときの角周波数ωを、特性値である共鳴角周波数ω0として検出する。物性評価部107は、特性値に基づいて、サンプル11の磁気共鳴に関する、つまりサンプル11のフリーラジカルに関する物性値を特定する。図2は測定方法を説明するための説明図である。図3はインダクタが形成された半導体集積回路の外観図である。 |
イメージ図 | |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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