磁界の可視化装置、検査装置、可視化方法および欠陥の検出方法

開放特許情報番号
L2008004624
開放特許情報登録日
2008/8/22
最新更新日
2009/8/21

基本情報

出願番号 特願2008-004804
出願日 2008/1/11
出願人 国立大学法人埼玉大学
公開番号 特開2009-168517
公開日 2009/7/30
発明の名称 磁界の可視化装置、検査装置、可視化方法および欠陥の検出方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 磁界の可視化装置、検査装置
目的 欠陥を簡単に発見することができるように、磁界分布を即座に表示することができる可視化装置および方法を提供する。
効果 磁界分布の可視化装置を提供することで、磁界分布を目で見ることができ、その可視化装置を含む検査装置を提供することで、鉄鋼材料等の欠陥を、切断等することなく非破壊的に簡単に発見することができる。この可視化装置は、磁界分布を明瞭に表示することができ、磁界分布の把握も容易であるため、学校用の教育機材として利用可能である。この検査装置および欠陥を検出する方法は、非破壊的に簡単に検査を行うことができるため、品質検査にかかるコストを低減させ、検査時間を短縮することができる。
技術概要
図1は磁化された鉄の棒の周りに発生する磁界の磁力線を示す図、図2は可視化装置を示す図、である。図1(a)に示すように、傷がない場合は、一端のN極から他端のS極へ向く磁力線となるが、図1(b)に示すように溝11が存在すると、その溝11に磁極が発生し、図1(b)に示すような溝11の両端に発生したN極からS極へ向き、その溝11から湧き出すような磁力線ができる。また、図2に示すように、この可視化装置は、第1面と一定の色順序で配列する複数色の蛍光物質20を備える第2面とを有するスクリーン21と、蛍光物質20の1つに電子ビーム22を照射する電子ビーム照射手段23と、電子ビーム22を偏向させる偏向手段24と、電子ビーム照射手段23および偏向手段24に信号を与え、複数色のうちの1つの色の蛍光物質20のみに電子ビーム22が照射されるように偏向させ、スクリーン21にその色のみからなるカラー像を表示させる信号供給手段26とを含む。その色のカラー像を表示させつつ第1面を材料へ接近させ、電子ビーム22がローレンツ力を受けることにより、第2面に磁界分布に対応した複数色からなるカラー像を形成させる。
イメージ図
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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