和周波発生分光装置及びその分光方法

開放特許情報番号
L2008004302
開放特許情報登録日
2008/8/15
最新更新日
2009/11/6

基本情報

出願番号 特願2008-077840
出願日 2008/3/25
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2009-229386
公開日 2009/10/8
発明の名称 和周波発生分光装置及びその分光方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 時間分解測定を行うことができる和周波発生分光システム
目的 シングルチャネル和周波分光法を高機能化し、赤外光と可視光の波長を可変にしたSFG分光装置及びその測定方法を提供する。
効果 シングルチャネルSFG分光法でありながら、2重共鳴条件が実現でき、しかも、従来SFGで多く用いられてきたCH伸縮、OH伸縮、C=O伸縮領域だけでなく、4000〜1000cm↑−↑1にわたる広い赤外波数領域で測定できるようになる。
技術概要
表面や界面の振動スペクトルの測定あるいは界面選択的な時間分解測定を行う和周波発生(SFG)分光装置を用意する。SFG分光装置は、パルスレーザ光源1と、その出力光を分岐し、分岐の一部(励起光A)を波長変換する波長可変の長波長励起光発生器2と、他の一部(励起光B)を波長変換する波長可変の短波長励起光発生器4と、長波長励起光を試料7に照射する第1光学系と、短波長励起光を試料7に照射する第2光学系と、遅延器11と、試料7からの光から和周波光を選択する第3光学系と、光検出器10とを備える。長波長励起光発生器は、波長帯域を掃引し、短波長励起光発生器では試料ごとに出力波長を変える。第1光学系と第2光学系および遅延器11は、長波長励起光と短波長励起光とを試料7で空間的および時間的に重なるように照射する。第3光学系は、和周波光の光路を調整して光検出器10に入射させ、選択された和周波光以外の光を抑制させる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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