構造体の欠陥を検知するための方法及びシステム

開放特許情報番号
L2008004293
開放特許情報登録日
2008/8/15
最新更新日
2015/9/21

基本情報

出願番号 特願2008-072068
出願日 2008/3/19
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2009-092644
公開日 2009/4/30
登録番号 特許第5007978号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 構造体の欠陥を検知するための方法及びシステム
技術分野 土木・建築
機能 検査・検出
適用製品 建物、橋梁、道路、トンネル、ダム等からなる構造体の欠陥検知に適用する。
目的 特定の発光膜を用いる構造体の欠陥検知方法を提供する。
効果 構造体に発生した減肉、クラック等の欠陥を、構造体を破壊することなく検知することが可能になる。
技術概要
例えば、歪みエネルギーを受けて発光するとともに、歪みエネルギー密度の変化の大きさに比例した発光強度で発光する発光粒子を含有した発光膜1を、構造体2の表面の一部分に塗着等により形成し、構造体2に衝撃を与えて衝撃波を発生させることによって、構造体2に歪みの変化を生じさせた状態で、発光膜1の光に基づいて、構造体の表面側からは視認できない裏面及び内部に在る欠陥を、カメラ3等の撮像手段、光電変換手段によって検知する欠陥検知方法にする(図1)。発光膜1は、発光粒子1aと樹脂材料1bとから構成されており、発光粒子1aとしては、発光に比例する歪みエネルギー密度が2000J/m↑3以上である、例えば、SrMgAl↓1↓0O↓1↓7等の平均粒子径が20μm以下の粒子が用いられ、また、樹脂材料1bとしては、引張せん断接着強度が20Mpa以上である、例えば、エポキシ系樹脂、ウレタン樹脂等が用いられ、そして、樹脂材料1bの量を100重量部としたとき、発光粒子1aの量が10〜90重量部の割合の一定厚みの膜として構造体2の表面に適用される(図2)。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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