波長変化パルス光発生装置およびこれを用いた光断層計測装置

開放特許情報番号
L2008003572
開放特許情報登録日
2008/7/18
最新更新日
2008/7/18

基本情報

出願番号 特願2006-169699
出願日 2006/6/20
出願人 国立大学法人名古屋大学
公開番号 特開2008-002815
公開日 2008/1/10
発明の名称 波長変化パルス光発生装置およびこれを用いた光断層計測装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 断層情報を計測するシステム
目的 時間の経過に伴ってリニアに波長が大きく変化するパルス光を発生させる装置と、このパルス光発生装置を用いた性能の向上した光断層計測装置を提供する。
効果 波長変化パルス光発生装置は、時間の経過に伴って単調に波長が大きく変化するパルス光を発生させる事が出来、光断層計測装置は、対象物からの信号光の照射により反射される散乱光との干渉信号を用いて、断層情報を高性能で計測する事が出来る。
技術概要
波長変化パルス光発生装置としての検査光発生部30を備える光断層計測装置20を用意する。検査光発生部30は、パルス幅(時間幅)がピコ秒(ps)からフェムト秒(fs)単位のパルス光を生成する短パルス光源32と、短パルス光源32のパルス光の周波数を調整する変調器33とを配備する。更に、変調器33からのパルス光の強度を増幅する増幅器34と、増幅器34により強度が増幅されたパルス光を1200nm〜2200nm程度の広帯域で比較的平坦に広がるスーパーコンティニューム(広帯域光)とする広帯域光生成用光ファイバ35を設置する。又、スーパーコンティニュームを時間の変化に対してリニアに波長が変化する検査光とするパルス伸張用光ファイバ36とを配置する。検査光発生部30から光分岐器40を介して得られる検査光を信号光と参照光とに分岐し、スキャニング照射受光装置44からの散乱光と参照光とを合成して、干渉信号出力器50で干渉信号を出力させる。これにより、干渉信号をアナログデジタル変換するA/D変換器60を介して対象物10の断層情報を計測する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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